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The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. ex. Some numerals are expressed as "XNUMX".
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Measurement of a Depth Profile in a Random Medium Using Coherent Backscattering of Light 빛의 간섭성 후방산란을 사용하여 무작위 매질에서 깊이 프로파일 측정

Yasuyuki OKAMURA, Sadahiko YAMAMOTO

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요약 :

임의의 매질에서 산란된 빛의 평균 강도 피크 프로파일은 샘플의 두께뿐만 아니라 매질을 구성하는 입자의 부피 분율 및 크기와 같은 매개변수에 따라 달라집니다. 우리는 이 의존성을 사용하여 무작위 매체에서 변화하는 깊이 프로파일을 측정했습니다. 우리는 수송 평균 자유 경로와 티타늄 입자의 수성 현탁액 깊이를 동시에 측정할 수 있음을 보여주었습니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E83-C No.12 pp.1809-1813
발행일
2000/12/25
공개일
온라인 ISSN
DOI
원고의 종류
Special Section PAPER (Special Issue on Problems of Random Scattering and Electromagnetic Wave Sensing)
범주
무작위 매체의 산란 및 전파

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