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Image Reconstruction of Multiple Conductors 다중 도체의 이미지 재구성

Chien-Ching CHIU, Ching-Lieh LI, Wei CHAN

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요약 :

유전 알고리즘은 여러 개의 완벽하게 전도성이 있는 원통의 모양을 재구성하는 데 사용됩니다. 경계 조건과 측정된 산란장을 기반으로 일련의 비선형 적분 방정식이 도출되고 이미징 문제가 최적화 문제로 재구성됩니다. 그런 다음 유전 알고리즘을 사용하여 목적 함수의 전역 극단 해를 찾습니다. 역알고리즘의 기능을 보여주기 위해 수치적 예가 제공됩니다. 두 도체 사이의 다중 산란이 심각한 경우에도 양호한 재구성이 이루어집니다. 또한 재구성 결과에 대한 가우스 노이즈의 영향을 조사합니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E84-C No.7 pp.961-966
발행일
2001/07/01
공개일
온라인 ISSN
DOI
원고의 종류
Special Section PAPER (Special Issue on Techniques for Constructing Microwave Simulators--Design and Analysis Tools for Electromagnetic Fields, Circuits, and Antennas--)
범주
전자기학 시뮬레이터의 응용

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