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A De-Embedding Method Using Different-Length Transmission Lines for mm-Wave CMOS Device Modeling mm-Wave CMOS 소자 모델링을 위해 서로 다른 길이의 전송선을 사용한 디임베딩 방법

Naoki TAKAYAMA, Kota MATSUSHITA, Shogo ITO, Ning LI, Keigo BUNSEN, Kenichi OKADA, Akira MATSUZAWA

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요약 :

본 논문에서는 mm-wave 주파수에서 온칩 S-파라미터 측정을 위한 디임베딩 방법을 제안합니다. 제안하는 방법은 길이가 다른 두 개의 전송선만을 사용한다. 제안된 방법에서는 두 개의 전송 라인에서 추출된 기생 성분 모델을 트랜지스터, 커패시터, 인덕터 등과 같은 다른 유형의 DUT에 대한 디임베딩에 사용할 수 있습니다. 실험 결과는 서로 다른 DUT 간의 특성 임피던스 오차가 있음을 보여줍니다. 전송선 길이는 0.7GHz 이상에서 40% 미만입니다. 추출된 패드 모델도 표시됩니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E93-C No.6 pp.812-819
발행일
2010/06/01
공개일
온라인 ISSN
1745-1353
DOI
10.1587/transele.E93.C.812
원고의 종류
Special Section PAPER (Special Section on Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies)
범주

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