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Predicting Analog Circuit Performance Based on Importance of Uncertainties 불확실성의 중요성을 기반으로 아날로그 회로 성능 예측

Jin SUN, Kiran POTLURI, Janet M. WANG

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요약 :

CMOS 장치의 소형화로 인해 프로세스 변동이 CMOS 기반 아날로그 회로 오류의 주요 원인이 되고 있습니다. 예를 들어, 피처 크기가 5%만 변해도 회로 오류가 발생할 수 있습니다. 몬테카를로(Monte-Carlo) 및 코너 기반 검증과 같은 다양한 방법은 문제를 포착하기 전에 수천 번의 시뮬레이션을 통해 문제로 인한 변동을 예측하는 데 도움이 됩니다. 본 논문에서는 아날로그 회로 성능 예측을 위한 새로운 방법론을 제시합니다. 새로운 방법은 먼저 회로의 모든 관련 장치에 대한 통계적 불확실성 분석을 적용합니다. 매개변수 가변성의 불확실성 중요성을 평가함으로써 결과 출력에 가장 중요한 구성 요소만으로 회로를 근사화합니다. 결과 시스템에 CAA(Chebyshev Affine Arithmetic)를 적용하면 시간 영역과 주파수 영역에서 성능 범위와 확률 정보가 모두 제공됩니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E93-C No.6 pp.893-904
발행일
2010/06/01
공개일
온라인 ISSN
1745-1353
DOI
10.1587/transele.E93.C.893
원고의 종류
PAPER
범주
전자 회로

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