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Clock Skew Evaluation Considering Manufacturing Variability in Mesh-Style Clock Distribution 메시 스타일 클록 분포의 제조 가변성을 고려한 클록 스큐 평가

Shinya ABE, Masanori HASHIMOTO, Takao ONOYE

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요약 :

제조 공정이 미세화되고 공급 전압이 낮아짐에 따라 제조 가변성이 회로 성능에 미치는 영향이 커지고 있습니다. 본 논문에서는 클록 스큐를 줄이는 데 효과적이라고 생각되는 메쉬 스타일 클록 분포에 중점을 두고 제조 및 설계 가변성을 고려하여 클록 스큐를 평가합니다. MOS 트랜지스터 변동(무작위 및 공간 상관 변동)과 불균일 플립플롭(FF) 배치를 고려하면 공간 상관 변동과 심한 불균일 FF 분포가 클록 스큐의 주요 원인이 될 수 있음을 보여줍니다. 또한 설계 매개변수에 대한 클록 스큐의 종속성을 조사하고 클록 메시가 더 미세하다고 해서 클록 스큐가 반드시 감소하는 것은 아니라는 사실을 밝힙니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E91-A No.12 pp.3481-3487
발행일
2008/12/01
공개일
온라인 ISSN
1745-1337
DOI
10.1093/ietfec/e91-a.12.3481
원고의 종류
Special Section PAPER (Special Section on VLSI Design and CAD Algorithms)
범주
장치 및 회로 모델링 및 분석

작성자

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