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OTA-C Based BIST Structure for Analog Circuits 아날로그 회로를 위한 OTA-C 기반 BIST 구조

Cheng-Chung HSU, Wu-Shiung FENG

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요약 :

이 편지에서는 아날로그 회로의 결함 진단을 위한 작동 상호 컨덕턴스 증폭기 및 접지 커패시터(OTA-C)를 기반으로 하는 새로운 내장 자체 테스트(BIST) 구조를 제안합니다. 제안된 아날로그 BIST 구조, 즉 ABIST는 테스트 포인트 수를 늘리고 전압 데이터로 모든 테스트 포인트를 샘플링 및 제어하며 테스트 신호 관찰 시간을 줄이는 데 사용할 수 있습니다. 제안된 ABIST 구조가 효과적인지 검증하기 위해 실험적인 측정이 이루어졌습니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E83-A No.4 pp.771-773
발행일
2000/04/25
공개일
온라인 ISSN
DOI
원고의 종류
LETTER
범주
VLSI 설계 기술 및 CAD

작성자

키워드