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Comprehensive Matching Characterization of Analog CMOS Circuits 아날로그 CMOS 회로의 포괄적인 매칭 특성 분석

Hiroo MASUDA, Takeshi KIDA, Shin-ichi OHKAWA

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요약 :

회로 수준의 새로운 아날로그 불일치 모델이 개발되었습니다. MOS 트랜지스터의 소신호 매개변수는 강 반전 동작과 약한 반전 동작 모두에 대한 일치 특성 측면에서 모델링됩니다. 기본 CMOS 증폭기에 대한 불일치 분석은 제안된 모델과 Monte Carlo SPICE 시뮬레이션을 통해 수행됩니다. 실제 아날로그 회로 설계를 이용하여 평균 오차 10% 이내에서 정확성이 검증된 아날로그 CMOS 회로의 성능 불일치에 대한 간단한 분석 공식을 도출하는데 성공했습니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E92-A No.4 pp.966-975
발행일
2009/04/01
공개일
온라인 ISSN
1745-1337
DOI
10.1587/transfun.E92.A.966
원고의 종류
Special Section PAPER (Special Section on Advanced Technologies Emerging Mainly from the 21st Workshop on Circuits and Systems in Karuizawa)
범주

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