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CMOS Open Defect Detection by Supply Current Measurement under Time-Variable Electric Field Supply 시변 전기장 공급 하에서 공급 전류 측정을 통한 CMOS 오픈 결함 검출

Masaki HASHIZUME, Masahiro ICHIMIYA, Hiroyuki YOTSUYANAGI, Takeomi TAMESADA

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요약 :

본 논문에서는 CMOS 로직 IC의 오픈 결함을 검출하기 위한 새로운 테스트 방법을 제안한다. 이 방식은 IC 외부에서 시변 공급 전압과 전기장을 공급해 발생하는 IC 공급 전류를 기반으로 한다. 또한 테스트 방법에 대한 테스트 입력 벡터가 제안되었으며, 이는 오류 모델 기반의 기능 테스트 방법보다 더 쉽게 생성될 수 있음을 보여줍니다. 테스트의 타당성은 몇 가지 실험을 통해 조사됩니다. 경험적 결과는 이 방법을 사용하여 CMOS IC의 개방 결함을 감지할 수 있다는 것을 약속합니다.

발행
IEICE TRANSACTIONS on Information Vol.E85-D No.10 pp.1542-1550
발행일
2002/10/01
공개일
온라인 ISSN
DOI
원고의 종류
Special Section PAPER (Special Issue on Test and Verification of VLSI)
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